MLCC綜述(5)
2016-08-17 來自: 肇慶市吉美電子科技有限公司 瀏覽次數(shù):1077
(4)測試氣壓的控制
a.噴氣式氣壓的控制:噴氣氣壓要求適中,過大或過小會(huì)導(dǎo)致誤噴,影響測量的準(zhǔn)確度
b.真空氣壓的控制:真空氣壓過大會(huì)影響電容噴倉,即電容噴不出倉,真空氣壓過小會(huì)影響電容上料及容易造成誤吹而把電容吹入不應(yīng)該吹入的分料倉內(nèi),使分料后的結(jié)果不準(zhǔn)確,影響測量的準(zhǔn)確度
(5)測試針定位高度的控制
測試針在測試電容時(shí)要與電容保持一定的高度,測試針過高則會(huì)影響測試的精度及準(zhǔn)確度,測試針過低則會(huì)與電容端頭產(chǎn)生摩擦,導(dǎo)致電容端頭磨損,影響電容外觀及焊接性能
(6)測試針的敏感度的控制
測試針的敏感度會(huì)影響電容測試的效果,如一些性能要求較高的電容對其測試針的精度要求較高,測試針導(dǎo)電性能差會(huì)影響電容的性能測試,影響測試測量的準(zhǔn)確度,故往往要求測試針的表面鍍一層金,從而增強(qiáng)測試針的導(dǎo)電性,確保電容的性能測試
3.產(chǎn)品設(shè)計(jì)、命中率和合格率
a.MLCC產(chǎn)品命中率:產(chǎn)品容量符合相應(yīng)容量誤差要求的稱為命中產(chǎn)品,相對應(yīng)的產(chǎn)品命中的比率為命中率
b.MLCC產(chǎn)品合格率:絕緣電阻、損耗值、耐電壓三項(xiàng)性能合格的產(chǎn)品為合格產(chǎn)品,相對應(yīng)產(chǎn)品合格的比率為合格率
c.MLCC產(chǎn)品容量值公式:C=KMN/T
其中,C----容量
K----介質(zhì)材料介電常數(shù)
M----電容器單層有效正對面積
N----電容器有效層數(shù)
T----介質(zhì)厚度
當(dāng)產(chǎn)品容量偏移導(dǎo)致產(chǎn)品不命中時(shí)參照上述公式,通過調(diào)整有效層數(shù)與介質(zhì)厚度,可以相應(yīng)調(diào)整MLCC產(chǎn)品的容量值
2包裝
1.編帶包裝:MLCC產(chǎn)品絕大部分采用此包裝方式,適用于自動(dòng)化表面貼裝。包括紙帶包裝和塑膠帶包裝兩種方式。
2.散包裝:將MLCC按照一定數(shù)量要求裝在標(biāo)識(shí)好的塑料袋中,此包裝方式不能用來自動(dòng)化表面貼裝,適用于手工焊接方式。
MLCC性能評價(jià)
1原材料控制
1.1瓷粉
1.物理性能
(1) 粉體粒度分布:粉體粒度分布是瓷粉的一項(xiàng)重要物理性能,粒度是表示瓷粉顆粒的大小,而瓷粉顆粒是具有一定尺寸和形狀的微小物體,是組成粉體的基本單元。
粒度分布表示方法:a.表格法。用列表的方式給出某些粒徑所對應(yīng)百分比的表示方法,通常有區(qū)間分布和累計(jì)分布
b.圖形法。用直方圖和曲線等圖形方式表示粒度分布的方法
c.函數(shù)法。用函數(shù)表示粒度的方法,常見有R--R分布,正態(tài)分布等
檢測粒度的方法:篩分法、顯微鏡法、重力沉降法、離心沉降法、庫爾特法、激光衍射/散射法、電鏡法、超聲波法、透氣法等
(2)粉體形貌:粉體形貌是反映粉體表面狀態(tài)的一個(gè)重要參數(shù),它是使用電鏡法通過掃描電子顯微鏡放大倍數(shù)來檢測
(3)比表面積:比表面積是反映粉體顆粒大小分布于表面狀態(tài)的一個(gè)重要參數(shù),是使用透氣法通過全自動(dòng)比表面積分析儀來檢測的
(4)瓷粉體含水量:粉體濕度是反映粉體含水量的一個(gè)重要參數(shù),含水量對MLCC膜片成型質(zhì)量有很大影響,偏高會(huì)導(dǎo)致膜片針孔與氣泡,影響MLCC性能。
(5)粉體成分:粉體成分是保證 粉體物理性能及介電性能的重要參數(shù),檢測粉體成分的儀器主要是X射線熒光光譜儀
2.小批量投產(chǎn)實(shí)驗(yàn)
將瓷粉按照原來的工藝配方和固有的工藝流程制作成陶瓷電容器,在此過程中,檢驗(yàn)MLCC電性能與可靠性,并跟進(jìn)各道工序的質(zhì)量狀況,從而判定該瓷粉是否符合要求
3.電氣性能檢驗(yàn)
瓷粉形成電容器后,檢測電容器的電性能及可靠性。試驗(yàn)項(xiàng)目包括瓷體強(qiáng)度試驗(yàn)、耐焊接試驗(yàn)、TC試驗(yàn)、低壓試驗(yàn)、抗彎曲試驗(yàn)、加速壽命試驗(yàn)等